产品详情
简单介绍:
实现高照度、高均匀性和小型外壳的伪同轴落射照明
可以使用半镜在与相机轴相同的轴上照射它。
通过改进所使用的半镜,分辨率明显高于IFVA系列。
由于可以使用镜面反射进行检查,因此对于检查表面上的细小划痕、印刷和字符检查非常有效。
它可用于广泛的应用,例如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
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